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GIST Repository College of Information and Computing Department of Electrical Engineering and Computer Science 2. Conference Papers

Statistical analysis of dark random noise in CMOS image sensors based on the Green’s function approach

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Author(s)
Jun-Myung Woo; Hong-Hyun Park,; HONG, SUNG MIN; Hong-Sik Min; Young-June Park
Type
Conference Paper
Citation
한국반도체학술대회
Issued Date
2009-02-01
Publisher
제 16회 반도체학술대회, 한국물리학회-한국재료학회-대한전기학회-대한전자공학회, 반도체설계교육센터 공동주최
Conference Place
KO
URI
https://scholar.gist.ac.kr/handle/local/25898
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